태양광 shunt 비파괴
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TNDT-PVLIT 는 태양광 셀 /모듈의 shunt 를 측정하는 열화상 비파괴 검사입니다.
태양광 shunt 를 측정하는 방법은 excitation 방식에 따라 크게 두가지로 구분할수 있습니다.
첫째는 optical 방식으로 열원으로 광원을 사용하는 방법입니다. (ILIT method)
이 방식은 주위에 반사되는 물체가 없어야 정확한 pahse , amplitude 데이터를 획득할수 있습니다.
두번째 방식은 Forward, reverse bias 를 사용하는 방법으로 PV-LIT 분야에서 가장 많이 사용되고 있습니다.
DLIT 방식으로도 불리는 이 방법은 solar cell 인가되는 bias 전원과 IR camera 신호 동기화를 통해
solar cell shunt 측정하는 방법입니다.
실제로 Solar cell shunt 를 측정해 보면...
열화상 이미지에서 측정되지 않은 shunt 결함을 TNDT phase, amplitude 데이터에서는 검출이 되는것을 확인 할 수 있다.
실제 ILIT, DLIT 방식으로 측정해 보면 결과데이터는 거의 비슷하게 측정되는것을 확인 할수 있다.
(단, ILIT 경우 최적화된 환경에서..)
* EL vs PV-LIT 비교
태양광 Shunt 측정 방식인 EL 과 TNDT-PVLIT 방식을 비교해 보면 동일한 태양광 셀에서 측정 결과를 아래와
같이 확인 할 수 있다.
EL에서 검출되지 않은 shunt 를 PV-LIT 방식을 사용했을 경우 태양광 셀 하단 shunt 검출 !!!
