PV-LIT (Solar shunt 검사 시스템)

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Solar cell & Module 의 shunt 결함을 검사하는 시스템으로 Cell 에 bias를 주기적으로 인가 (lock in) 방식으로 열화상 카메라와의 동기화를 통해 진폭 또는 위상 데이터를 측정.

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열화상 카메라  vs  열화상 비파괴 시스템 비교 ​

열화상 카메라만 가지고 측정하는 방식을 passive method 라고도 합니다.

해상도 640x480 pixels , 온도 분해능 0.03도로 측정한 열화상 데이터 입니다.

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온도 데이타 ---> Solar cell 의 shunt 결함을 측정 x ​

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                                       [열화상 카메라로 측정한 데이터]​​​​

동일한 열화상 카메라로 lock in 방식으로 측정한 데이터 입니다.  (active method)

위상 및 진폭 데이터 ---> solar cell 결함 발견

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​​                                  [열화상 비파괴시스템으로  측정한 데이터]